BOK-X原位漫反射附件
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BOK-X原位漫反射附件通過”X”型的光路設計最大限度地提高了對漫散射的收集,同時最大程度的減少了鏡面反射干擾,從而獲得高質量的光譜。使用BOK-X原位漫反射附件,只需極少的樣品制備就可分析各種樣品。
BOK-X原位漫反射附件設備頂部設有觀察孔,該觀察孔正位于樣品點上方,可以方便的通過鏡頭觀察和拍攝反應過程,同時也可以引入激光誘導反應或觀測拉曼光譜!
原理
BOK-X原位漫反射附件的一個橢球鏡將入射光束聚焦在樣品上,另一個橢球鏡則從樣品中收集漫反射光,這兩個橢球鏡以一定角度傾斜,可以在120°的角收集漫反射光,這種光學設計可以比一般的對稱設計多收集20%的漫反射光,使得我們的附件比其他附件更加靈敏、高效、實用。
特點
1.高反射率鍍金離軸橢球鏡
2.高效的光學反射系統,附件透過率優于 70%
3.卓越的X型光路設計,排除反射信號,只采集漫反射信號
4.大附件空間,允許裝配不同的漫反射原位反應器
5.廣泛兼容不同品牌的紅外、紫外-可見光譜儀
應用
1.對粉末和固體進行簡單可靠的漫反射分析
2.催化和在溫控或壓力環境下的分析其它粉末
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